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相关搜索词
图形调试
Sapphire
存储器件
多功能
图象质量
Verity系统
存储器
多媒体
器件
Sun公司
半导体工业
参数分析
中国市场
测试
半导体行业
发展
Raytheon公司
吞吐量
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加工成本
半导体材料
Octet系统
SoC芯片
复杂度
科利登公司
增强型
Personal
半导体业
systems公司
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根据【检索词:科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解】搜索到相关结果
576
条
科
利
登
推出
Sapphire-D10
作为
消费类
芯片
量产
测试
解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及
消费类
混合信号器件的低成本
测试
解决方案而设计。[第一段]
科
利
登
推出
注重
芯片
成本的高
量产
测试
系统
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
公司
芯片
成本控制
封装
测试
系统
D—10系统
图形调试
描述:
科
利
登
推出
注重
芯片
成本的高
量产
测试
系统
科
利
登
推出
Sapphire-D10
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Sapphire
D10系统
封装
测试
集成电路
科
利
登
系统公司
描述:
高的并行能力。[第一段]
科
利
登
推出
新型
测试
系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
推出
Kalos
集成电路
测试
系统
Personal
科
利
登
系统公司
非挥发性存储器
测试
能力
存储器件
软件工具
嵌入式
全兼容
硬件
描述:
生产用
测试
系统Kalos 2和工程
测试
系统Personal Kalos 2完全兼容。
科
利
登
推出
Sapphire—D10
测试
解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
解决方案
科
利
登
系统公司
微控制器
混合信号
显示驱动
e系列
多功能
消费类
封装
描述:
科
利
登
系统公司(Credence)日前宣布,
推出
Sapphire系列的新成员
Sapphire-D10
。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装
测试
解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动
Sapphire D-10来自
科
利
登
的
测试
经济化革新
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
经济化
革新
测试
电子产品
电池寿命
操作性能
图象质量
制造商
消费类
描述:
Sapphire D-10来自
科
利
登
的
测试
经济化革新
科
利
登在IC China 2005展出注重
芯片
成本的高
量产
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
China
测试
系统
IC
成本
科
利
登
系统公司
芯片
市场需求
多功能
描述:
为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,
科
利
登
系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
科
利
登
推出
完整的设计纠错和验证解决方案
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科
利
登
系统公司
设计纠错
验证
Verity系统
芯片
描述:
科
利
登
推出
完整的设计纠错和验证解决方案
科
利
登
测试
系统被Silicon Image采用
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
测试
系统
科
利
登
系统公司
gigabit
解决方案
测试
平台
电子器件
有限公司
数据传输
数字媒体
存储器
消费类
供应商
半导体
描述:
科
利
登
系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire
测试
系统作为未来
消费类
电子器件和存储器器件开发的关键
测试
平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案
Silicon Image购买了
科
利
登
Sapphire
测试
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
Silicon
Image
电子器件
测试
系统
消费类
购买
科
利
登
系统公司
gigabit
一代
测试
解决方案
半导体工业
测试
平台
有限公司
数据传输
供应商
存储器
代码
描述:
些解决方案用于强数宇媒体的数据传输和存储。
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