检索结果相关分组
- 科利登SEMICON展出Sapphire D-10系统
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：【杨振中／北京】半导体测试解决方案 主要供应商──科利登（Credence）在刚刚 结束的“2006 SEMICON China”展出了其 高量产混合信号测试产品系列以及设计 阶段精确快速的失效分析
- 第四届科利登年度技术研讨会西安召开
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2006 文献类型 ：报纸
- 描述：全球知名半导体生产测 试解决方案供应商科利登系统公司(Cre- dence)于6月2日在中国西安举办了第四 届科利登系列研讨年会。本年度的研讨会着 重讨论了有关ATE测试的各种主题，如IC 测试
- 科利登任命Dave House为董事会新执行主席
- 作者：杨振中 来源：电子资讯时报 年份：2005 文献类型 ：报纸
- 描述：［杨振中／北京］为世界 半导体工业提供从设计到生 产测试解决方案的领先供应 商──科利登系统有限公司 日前宣布：在英特尔公司担 任22年经理职务的Dave House，被任命为科利登董事 会
- 威盛电子采用科利登实验室解决方案
- 作者：暂无 来源：电脑商报 年份：2014 文献类型 ：报纸
- 描述：威盛电子采用科利登实验室解决方案
- 创建业界领导者——科利登投资人更新
- 作者：G Siddall 来源：半导体技术 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登公司 恩浦公司 特征分析 调试 半导体设备
- 描述：创建业界领导者——科利登投资人更新
- 科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
- 作者：暂无 来源：世界电子元器件 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试
- 描述：的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
- 新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统定位 成品率 失效分析 激光扫描显微镜 软件设计 长工作距离 新型集成电路 切换系统 调试方法 工艺性能
- 描述：新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率
- Credence科利登为制造商提供经济的解决方案和产能优势
- 作者：乔治 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 半导体公司 成本效益 Credence 小型化 集成化
- 描述：作等经营策略来迎接21世纪崭新的技术趋势,且让我们大致了解Credence在诸多领域的作为。