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图形调试
Sapphire
存储器件
多功能
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Verity系统
存储器
多媒体
器件
Sun公司
半导体工业
参数分析
中国市场
测试
半导体行业
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根据【检索词:科利登推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解】搜索到相关结果
576
条
科
利
登
完备失效分析实验室落户威盛
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
威盛电子股份有限公司
分析实验室
失效
完备
设计公司
科
利
登
公司
台湾地区
特征分析
生产线
购买
描述:
科
利
登
公司日前宣布威盛电子股份有限公司成为台湾地区首家从
科
利
登
购买整套用于设计、调试和特征分析的先进的电性失效分析实验室的Fabless(无生产线的
芯片
设计公司)。[第一段]
QuickLogic选用
科
利
登
Sapphire D-10系统
作者:
暂无
来源:
电子测试(新电子)
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
Logic公司
Quick
有限公司
工程验证
FPGA
低功耗
产品
描述:
科
利
登
系统(Credence)有限公司日前宣布QuickLogic公司购买了其Sapphire D—10
测试
系统,并将选用该系统作为下一代低功耗FPGA产品的工程验证和产品
测试
系统。[第一段]
microtec购买多台
科
利
登
Sapphire D-10测
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试
系统
购买
渗透力
测试
实验室
市场
有限公司
混合信号
音
视频
数字和
多媒体
描述:
科
利
登
系统有限公司宣布:欧洲领先的独立专业
测试
实验室microtec GmbH,购买了多台Sapphire^TM WD-10
测试
系统。该
测试
实验室将使用这些业界领先的
测试
系统来
测试
多媒体音/视频数字
Micrel购买多台
科
利
登
ASL 3000和ASL 100
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号
测试
Micrel公司
科
利
登
ASL3000
ASL1000系统
描述:
Micrel购买多台
科
利
登
ASL 3000和ASL 100
低成本和高性能促成DEI购买
科
利
登
的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试
系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科
利
登
系统有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL
测试
系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科
利
登
与北方工业大学合作成立工程培训中心
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工业大学
合作
北方
2004年6月
科
利
登
系统公司
工程
测试
解决方案
半导体工业
半导体产品
SOC
测试
特性分析
混合信号
供应商
描述:
2004年6月14日,美围加州MILPITAS--
科
利
登
系统公司,世界半导体工业提供从设计到生产
测试
解决方案的领先供应商,今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
科
利
登
系统公司2004年第二季度财务报告
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科
利
登
系统公司2004年第二季度财务报告
在MediaTek推动下多台
科
利
登
Sapphire NP系
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
MediaTek公司
Sapphire
NP系统
测试
系统
测试
容量
DVD市场
描述:
在MediaTek推动下多台
科
利
登
Sapphire NP系
科
利
登
任命行业翘楚为新任董事会执行主席
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
董事会
主席
House
行业
英特尔公司
有限公司
经理
描述:
科
利
登
系统有限公司日前宣布:在英特尔公司担任22年经理职务的Dave House。被任命为
科
利
登
董事会的执行主席,2005年12月9口起生效。House自Graham Siddall博士2005年
市场要闻:
科
利
登
(credence)系统公司(北京、上海)
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
2004年6月15、18日
科
利
登
(credence)系统公司技术研讨会分别在上海、北京举行。众多国内外IC
测试
专家、学者及国内晶圆代工厂、封装
测试
企业的相关工程师出席了本次会议。
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