检索结果相关分组
按文献类别分组
期刊文章
(8)
按栏目分组
历史名人
(8)
按年份分组
2012
(1)
2008
(2)
2006
(4)
2004
(1)
按来源分组
国外电子测量技术
(2)
电子与封装
(1)
中国计算机用户
(1)
电子工业专用设备
(1)
社会科学论坛(学术评论卷)
(1)
上海教育
(1)
学苑教育
(1)
相关搜索词
测试
基本规律
周礼全
半导体材料
多面手
失效分析
器件
首页
>
根据【关键词:系统】搜索到相关结果
4
条
科利登Sapphire D-10
系统
获奖
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
获奖
award
有限公司
Best
Test
测试
描述:
科利登
系统
有限公司日前宣布其Sapphire D-10
系统
荣获
2006
年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”(最佳测试奖)奖项。[第一段]
教育应是社会本位、知识本位、人本位的和谐
作者:
王占宝
来源:
上海教育
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
传统教育
知识本位
人本位
基本规律
实践教育
研究教育
和谐
社会本位
系统
走向
描述:
实践教育、研究教育、评价教育应该遵循教育的基本规律,继承优良的传统,把握教育的科学走向,根据教育的具体环境,回到教育的原点,回到教育的
系统
中来。
科利登最新推出Sapphire
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
有限公司
半导体材料
半导体工业
美国加州
供应商
e系列
系统
描述:
来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登
系统
有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界
科利登在
2006
年度SEMICON China展会上展出S
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
科利登
系统
有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述:
科利登
系统
有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了
2006
年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上
首页
上一页
1
下一页
尾页