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科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test: 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司测试解决方案测量系统半导体工业美国加州供应商; 描述：2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award（最佳测试奖）”奖项。

科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S: 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 系统科利登系统有限公司 SEMICON China展会 Sapphire D 10 失效分析; 描述：科利登系统有限公司（Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上

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