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科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test: 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司测试解决方案测量系统半导体工业美国加州供应商; 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award（最佳测试奖）”奖项。

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