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SoC器件
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失效分析
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根据【关键词:科利登系统有限公司】搜索到相关结果
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条
矽格定购科利登Sapphire测试系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
矽格微电子公司
Sapphire测试系统
科利登系统有限公司
SoC器件
定购
描述:
科利登系统有限公司近日宣布:矽格微电子公司,已经购买了多台Sapphire测试系统。作为科利登近10年的客户,矽格直接经历了SoC器件的需求增长,这一增长同时也加速了消费类IC测试与封装外包市场的增长。矽格选择Sapphire是因为该系统的可扩展性,
科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统有限公司
测试解决方案
测量系统
半导体工业
美国加州
供应商
描述:
2006年2月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award(最佳测试奖)”奖项。
科利登(Cre dence):访科利登系统(上海)有限公司
作者:
丁力
来源:
集成电路应用
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利登系统有限公司
陈绪
人物访谈
发展战略
中国市场
测试设备
描述:
2004年3月17~19日,SEMI—CON中国2004展会在上海浦东国际会展中心隆重举行,来自全球各地的近千家企业展示了他们的先进技术和产品。
新闻总汇--测试与测量
作者:
暂无
来源:
电子设计应用
年份:
2003
文献类型 :
期刊文章
关键词:
LabVIEW工具包
NI公司
非挥发性存储器器件
软件驱动程序
光纤通道控制器芯片
科利登系统有限公司
描述:
新闻总汇--测试与测量
科利登在2006年度SEMICON China展会上展出S
作者:
暂无
来源:
国外电子测量技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
系统
科利登系统有限公司
SEMICON
China展会
Sapphire
D
10
失效分析
描述:
科利登系统有限公司(Credence Systcms Corporation,2006年3月21日至23日参加了2006年度SEMICON China展会。科利登在SEMICON China展会上详细介绍了以下产品:[第一段]
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