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感受硅谷(二)
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作者:赵雪芹 来源:今日电子 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 美国国家半导体公司 模拟技术供应商 科利登系统公司 CEVA公司
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描述:个人电脑及笔记本电脑等市场。该公司还特别为医疗设备、汽车电子系统、工业器材及测试和测量设备提供各种专门的解决方案。电源管理技术和放大器两大产品的营业额占其总收入的一半。根据iSupply 市场资料显示,该公司2003年在全球电源管理芯片市场以高达12.5%的市场占有率居于榜首。其领先的微型封装技术Micro SMD 及Microfil 也广受客户赞誉。在刚刚结束的2004年,该公司共获得 221 项专利,创下有史以来的最高记录。 美国国家半导体董事长兼总裁Brian L. Halla先生认为,随着创新模拟技术的应用和无限/ 无线连结的网络的发展,未来将进入个人消费科技(Personal Technology)的PT时代,庞大的个人消费市场需求将是未来发展的驱动力。 Brian 说,自1970 年以来,电子产业经历了由...
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科利登市场动作频频备受全球业界瞩目
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作者:海菲 来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 全球 市场 科利登系统公司 测试解决方案 半导体工业
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描述:世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供直商科利登系统公司近两个月来连续宣布三个市场动作,备受全球业界瞩目。[第一段]
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科利登连续三年ATE供应商满意度第一
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作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: VLSI 超大规模集成电路 测试 科利登系统公司 ATE 供应商 满意度
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描述:科利登系统公司近日宣布:根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示,它在所有自动测试设备(ATE)供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
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科利登推出Sapphire-D10系统
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作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Sapphire D10系统 封装 测试 集成电路 科利登系统公司
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描述:高的并行能力。[第一段]
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Zetex半导体购买多台科利登ASL3000系统
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作者:刘林发 来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000 半导体 购买 科利登系统公司 混合信号 测试成本 器件 拟和
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描述:科利登系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。
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科利登与蔚华合并台湾业务,服务客户测试需求
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作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案 台湾地区 合并 服务 科利登系统公司 业务 需求 客户 股份有限公司 技术整合
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描述:区用户的支持。[第一段]
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科利登与北方工大合作成立IC工程培训中心
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作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 培训中心 工程 合作 北方 科利登系统公司 IC 半导体产品 SoC测试 工业大学 特性分析
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描述:科利登系统公司日前宣布与北方工业大学合作建立培训中心,为工程类学生提供培训。培训中心最初将着重于半导体产品的验证及特性分析,然后会向混合信号、射频、SoC测试等领域扩展。[第一段]
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科利登的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模
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作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台 测试能力 科利登系统公司 模拟 测试应用 数字电视 模数转换 音 视频 XDSL
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描述:科利登系统公司日前宣布:在Sapphire平台上采用四通道宽带集成收发选件(QBIX)能完成种类丰富的多种芯片的测试应用。这些测试包含数字电视,音/视频数模/模数转换,XDSL,中频,移动基带,机顶盒,DVD等多种芯片的应用。QBIX是ATE行业第一款双向多通道仪器选件,[第一段]
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整合优势资源 突破技术创新——访科利登系统公司总裁兼首席
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作者:陆彦 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司 David 首席执行官 技术创新 优势资源 总裁 整合 测试解决方案 测试成本
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描述:并了台湾的业务,这一系列的重大决策,已经及将会给科利登带来怎样的发展呢?我们就此采访了科利登系统公司的总裁兼首席执行官DavidA.Ranhoff。
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科利登和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
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作者:暂无 来源:集成电路应用 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence 验证 合作 科利登系统公司 诊断 测试平台 Test 测试覆盖率 测试向量
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描述:adence Encounter Diagnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据。在90nm或者更先进的工艺设计中,使用该诊断流程能增加测试覆盖率,提高缺陷定位速度。[第一段]