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科利登(Credence)和Cadence合作验证加快良率
作者:暂无 来源:半导体行业 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  科利登系统公司  诊断  测试平台  Test  测试向量  捕获数 
描述:adence Encounter Diaqnostics也从Sapphire平台输入错误捕获数据,[第一段]
科利登推出Sapphire—D10测试解决方案
作者:暂无 来源:电子测试(新电子) 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  科利登系统公司  微控制器  混合信号  显示驱动  e系列  多功能  消费类  封装 
描述:科利登系统公司(Credence)日前宣布,推出Sapphire系列的新成员Sapphire-D10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
Credence和Cadence合作验证加快良率诊断的新流程
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Cadence  验证  合作  科利登系统公司  诊断  测试平台  Test  测试向量 
描述:段]
科利登在IC China 2005展出注重芯片成本的高量产
作者:暂无 来源:半导体技术 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: China  测试系统  IC  成本  科利登系统公司  芯片  市场需求  多功能 
描述:为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,科利登系统公司在2005年8月24号至26号在北京举行的IC China 2005展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统
科利登系统公司荣获英特尔的优秀质量供应商奖
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  供应商  质量  混合信号测试  英特尔公司  3月15日  美国加州  测试系统  数字和  服务  产品  市场 
描述:其他25家公司已于3月15日在加州Burlingame举行的颁奖会上接受这一荣誉。
科利登测试系统被Silicon Image采用
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Silicon  Image  测试系统  科利登系统公司  gigabit  解决方案  测试平台  电子器件  有限公司  数据传输  数字媒体  存储器  消费类  供应商  半导体 
描述:科利登系统公司13前宣布Silicon Image有限公司购买了Sapphire测试系统作为未来消费类电子器件和存储器器件开发的关键测试平台。Silicon Image是gigabit半导体解决方案的领先供应商,这些解决方案用于强数字媒体的数据传输和存储。
Zetex半导体选择科利登的ASL3000测试其类型广泛的
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: ASL3000  混合信号  拟和  科利登系统公司  类型  测试解决方案  集成电路器件  美国加州  半导体业  测试成本  分立器件  产品市场  测试方案  供应商  设计 
描述:说:“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
科利登推出新型测试系统
作者:暂无 来源:中国集成电路 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: 推出  Kalos  集成电路测试系统  Personal  科利登系统公司  非挥发性存储器  测试能力  存储器件  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。
科利登与蔚华科技合并台湾业务
作者:刘林发  来源:电子与封装 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Integration  合并  科技  科利登系统公司  业务  股份有限公司  测试解决方案  半导体行业  技术整合  测试设备  集中培训  台湾地区  供应商  人力 
描述:务,从而进一步致力于对科利登在台湾地区的用户的支持。
科利登推出Kalos 2 Hex系统作为存储器器件灵活,完
作者:暂无 来源:电子与电脑 年份:2005 文献类型 :期刊文章 关键词: Kalos  测试解决方案  x系统  推出  He  集成电路测试系统  Personal  科利登系统公司  非挥发性存储器  存储器件  测试能力  软件工具  嵌入式  全兼容  硬件 
描述:生产用测试系统Kalos 2和工程测试系统Personal Kalos 2完全兼容。多台K2 Hex系统已经安装并用于复杂嵌入存储器件的测试。