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根据【关键词:测试解决方案】搜索到相关结果
4
条
科利登发布D-6432DFT测试解决方案
作者:
暂无
来源:
电子测试
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
Systems
半导体设计
微处理器
供应商
性价比
器件
描述:
半导体设计、测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。
科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
作者:
暂无
来源:
世界电子元器件
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
高数据速率
测试解决方案
科利登系统公司
半导体器件
高速串行总线
可测性设计
微处理器
环路测试
描述:
的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
科利登新聘资深专家加强公司领导团队力量
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
力量
专家
测试解决方案
半导体工业
首席执行官
全球范围
市场
供应商
描述:
现场运营和市场团队,集中于逐渐扩展科利登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
科利登发布D-6432DFT测试解决方案,帮助用户满足不断
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2007
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试解决方案
高数据速率
Systems
用户
半导体工业
微处理器
测试平台
供应商
描述:
件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
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