检索结果相关分组
第四届科利登系列技术研讨年会在西安成功举办
作者:暂无 来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 技术研讨  西安  测试解决方案  生产测试  供应商 
描述:从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)日前在西安举办了该公司的“第四届科利登系列测试技术研讨年会”。[第一段]
科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统有限公司  测试解决方案  测量系统  半导体工业  美国加州  供应商 
描述:2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award(最佳测试奖)”奖项。
科利登最新推出Sapphire
作者:暂无 来源:电子工业专用设备 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试解决方案  有限公司  半导体材料  半导体工业  美国加州  供应商  e系列  系统 
描述:来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息,为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展(Semicon West)上展示了该公司领先业界Sapphire系列的最新成员Sapphire D-40系统。[第一段]
服务测试领域 满足客户需求:访科利登系统公司首席执行官Da
作者:Dave Ranhoff  来源:电子元器件应用 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 科利登系统公司  首席执行官  服务测试  客户需求  测试解决方案  全球范围  技术人员  设备制造商  科利登公司  工业设计 
描述:科利登系统公司首席执行官Dave Ranhoff先生。[第一段]
科利登新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:暂无 来源:电子与封装 年份:2006 文献类型 :期刊文章 关键词: 测试平台  测试能力  射频  RF  测试解决方案  Zigbee  半导体工业  WiMax  有限公司  测试选件 
描述:pphire D系列的测试能力。[第一段]