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科利登D-6432DFT满足高数据速率需求: 作者：暂无 来源：世界电子元器件 年份：2007 文献类型：期刊文章 关键词： 高数据速率测试解决方案科利登系统公司半导体器件高速串行总线可测性设计微处理器环路测试; 描述：的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器

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