检索结果相关分组
- 第四届科利登系列技术研讨年会在西安成功举办
- 作者：暂无 来源：电子元器件应用 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 技术研讨 西安 测试解决方案 生产测试 供应商
- 描述：从设计到生产测试的全过程测试解决方案供应商——科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation）日前在西安举办了该公司的“第四届科利登系列测试技术研讨年会”。[第一段]
- 科利登市场动作频频备受全球业界瞩目
- 作者：海菲 来源：电子与封装 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 全球 市场 科利登系统公司 测试解决方案 半导体工业
- 描述：世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供直商科利登系统公司近两个月来连续宣布三个市场动作，备受全球业界瞩目。[第一段]
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案
- 作者：暂无 来源：电子测试 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 Systems 半导体设计 微处理器 供应商 性价比 器件
- 描述：半导体设计、测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。
- 科利登系统荣获《测试与测量世界》“Bestin Test
- 作者：暂无 来源：电子与封装 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统有限公司 测试解决方案 测量系统 半导体工业 美国加州 供应商
- 描述：2006年2月10日，来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息：为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商——科利登系统有限公司日前宣布其S apphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Bestin Test Award（最佳测试奖）”奖项。
- 科利登D-6432DFT满足高数据速率需求
- 作者：暂无 来源：世界电子元器件 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 高数据速率 测试解决方案 科利登系统公司 半导体器件 高速串行总线 可测性设计 微处理器 环路测试
- 描述：的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显著降低高速半导体器
- 科利登新聘资深专家加强公司领导团队力量
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 力量 专家 测试解决方案 半导体工业 首席执行官 全球范围 市场 供应商
- 描述：现场运营和市场团队，集中于逐渐扩展科利登在日本和台湾等主要市场领域的业务。[第一段]
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案，帮助用户满足不断
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 高数据速率 Systems 用户 半导体工业 微处理器 测试平台 供应商
- 描述：件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
- 科利登最新推出Sapphire
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 有限公司 半导体材料 半导体工业 美国加州 供应商 e系列 系统
- 描述：来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司在美西半导体材料与设备展（Semicon West）上展示了该公司领先业界Sapphire系列的最新成员Sapphire D-40系统。[第一段]