检索结果相关分组
- 学校应是一座实验室
- 作者：杨宏淼 来源：中小学管理 年份：2002 文献类型 ：期刊文章 关键词： 实验室 学校 能力素质 指导者 指点迷津 关键因素 自觉性 教师 责任心 切机
- 描述：学校应是一座实验室
- Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 经济化 革新 测试 电子产品 电池寿命 操作性能 图象质量 制造商 消费类
- 描述：Sapphire D-10来自科利登的测试经济化革新
- 欧洲领先的测试实验室Microtec购买多台科利登Sapp
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2006 文献类型 ：期刊文章
- 描述：频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。[第一段]
- Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： Raytheon公司 IMSElectm系统 测试 逻辑集成电路
- 描述：Raytheon公司选用科利登的IMS Electm系统测
- Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
- 作者：暂无 来源：电子与电脑 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 宽带数字信号处理器 测试 Octet系统 Ikanos公司
- 描述：Ikanos选择科利登的Octet系统用于宽带数宇信号处理
- 测试与测量
- 作者：暂无 来源：电子产品世界 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试仪 科利登公司 采样示波器 测量 数据采集设备 PXI模块 HSDPA 自动测试 自动控制
- 描述：科利登公司QBIX仪器;Aeroflex公司新型PXI模块及新的软件套件;泰克最新采样示波器软件;泰克HSDPA无线RF场测试仪;泰克汽车和自动控制自动测试和验证示波器软件;NI全新USB 2．0高速数据采集设备;[第一段]
- 科利登Sapphire D-10系统获奖
- 作者：暂无 来源：国外电子测量技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 系统 获奖 award 有限公司 Best Test 测试
- 描述：科利登系统有限公司日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的“Best in Test award”（最佳测试奖）奖项。[第一段]
- 科利登连续三年ATE供应商满意度第一
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： VLSI 超大规模集成电路 测试 科利登系统公司 ATE 供应商 满意度
- 描述：科利登系统公司近日宣布：根据VLSI公司2005年用户满意度的调查显示，它在所有自动测试设备（ATE）供应商排名最高。并且在世界十佳测试与材料加工设备公司中排名第四。[第一段]
- Credence亮相Semicon China 2003：
- 作者：周检兵 来源：集成电路应用 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 Mr.LarryDibattista 半导体行业 SemiconChina2003 中国市场 测试
- 描述：供设计、测试验证和先进的光学检测方面的测试技术,使低测试成本和快速市场投放成为可能。Credence公司还可