检索结果相关分组
按文献类别分组
报纸
(4687)
期刊文章
(2450)
学位论文
(91)
图书
(79)
会议论文
(45)
按栏目分组
历史名人
(6960)
地方文献
(174)
地方风物
(113)
宗教集要
(41)
红色文化
(31)
非遗保护
(20)
才乡教育
(9)
文化溯源
(4)
按年份分组
2014
(1107)
2013
(418)
2011
(682)
2009
(717)
2008
(532)
2002
(69)
1997
(63)
1993
(39)
1987
(48)
1984
(22)
按来源分组
青年时报
(76)
商丘日报
(61)
都市时报
(10)
计算机世界
(2)
四川文物
(2)
齐齐哈尔大学学报(哲学社会科学版)
(1)
山西师大学报(社会科学版)
(1)
课堂内外(初中版)
(1)
现代农业
(1)
云南党史资料通讯
(1)
相关搜索词
墓志铭
周礼
中学
《周礼正义》
王
天台宗
创业园
党刊
香烟
刘绍勇
理学
理脾阴
吴澄
和会朱陆
女子
国家863计划
音乐史
吴
仪式
吴炳
《孔子家语》
历代
张庚
陆九渊
教育思想
研究
道统
特点
哲学思想
首页
>
根据【检索词:清明节在黑龙潭公园举行王德三、吴澄、马登云烈士墓迁葬仪式】搜索到相关结果
2450
条
Micrel购买多台科利
登
ASL 3000和ASL 100
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
混合信号测试
Micrel公司
科利
登
ASL3000
ASL1000系统
描述:
Micrel购买多台科利
登
ASL 3000和ASL 100
低成本和高性能促成DEI购买科利
登
的ASL平台
作者:
本刊通讯员
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
ASL3000
DEI
平台
购买
促成
成本
测试系统
专用集成电路
有限公司
SL系列
描述:
科利
登
系统有限公司近日宣布:DeviceEngineering Inc.(DEI)公司购买了ASL测试系统。此次ASL 3000^TM的定购是由ASL系列的低成本、高产能和高精度而促成的。DEI
科利
登
新推出的Sapphire D-40测试平台结合其MV
作者:
暂无
来源:
电子与封装
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
测试平台
测试能力
射频
RF
测试解决方案
Zigbee
半导体工业
WiMax
有限公司
测试选件
描述:
pphire D系列的测试能力。[第一段]
科利
登
新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2006
文献类型 :
期刊文章
关键词:
模块化结构
SoC芯片
特性
无线应用
芯片尺寸
测试设备
工程验证
混合信号
复杂度
描述:
SoC芯片功能的不断增加,再加上芯片尺寸不断缩小,新材料和新工艺的引进,要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外,很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上,进一步增加了复杂度。[第一段]
科利
登
推出Sapphire-D10作为消费类芯片量产测试解
作者:
暂无
来源:
电子元器件应用
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
描述:
以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。[第一段]
科利
登
与北方工业大学合作成立工程培训中心
作者:
暂无
来源:
电子工业专用设备
年份:
2005
文献类型 :
期刊文章
关键词:
培训中心
工业大学
合作
北方
2004年6月
科利
登
系统公司
工程
测试解决方案
半导体工业
半导体产品
SOC测试
特性分析
混合信号
供应商
描述:
2004年6月14日,美围加州MILPITAS--科利
登
系统公司,世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商,今天宣布与北方工业大学合作建立培训中心。培训中心最初将着重于半导体产品的验证
科利
登
系统公司2004年第二季度财务报告
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
描述:
科利
登
系统公司2004年第二季度财务报告
在MediaTek推动下多台科利
登
Sapphire NP系
作者:
暂无
来源:
电子与电脑
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
MediaTek公司
Sapphire
NP系统
测试系统
测试容量
DVD市场
描述:
在MediaTek推动下多台科利
登
Sapphire NP系
Ikanos选择科利
登
的Octet测试系统
作者:
暂无
来源:
中国集成电路
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利
登
系统公司
Ikanos通讯公司
Octet测试系统
数字信号处理
描述:
Ikanos选择科利
登
的Octet测试系统
全新的科利
登
:提供先进技术降低测试成本
作者:
暂无
来源:
半导体技术
年份:
2004
文献类型 :
期刊文章
关键词:
科利
登
公司
测试成本
竞争优势
商业战略
描述:
全新的科利
登
:提供先进技术降低测试成本
首页
上一页
62
63
64
65
66
67
68
69
70
下一页
尾页