检索结果相关分组
- 科利登新推出的Sapphire D-40系统能提供真正的可
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 模块化结构 SoC芯片 特性 无线应用 芯片尺寸 测试设备 工程验证 混合信号 复杂度
- 描述：SoC芯片功能的不断增加，再加上芯片尺寸不断缩小，新材料和新工艺的引进，要求工程验证及量产测试设备的复杂度和功能持续增加。除此之外，很多SoC芯片都应用在混合信号和无线应用上，进一步增加了复杂度
- 科利登的Sapphire S测试系统被Sun公司采用
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： Sun公司 测试系统 自动测试设备 systems公司 微处理器芯片 高速芯片 科利登公司 高速接口
- 描述：很多拥有高速接口的先进芯片，用传统的自动测试设备无法对它们进行精确测试。运行在Sapphire S平台上的D-6436设备拥有完备充分的可升级性能，并拥有测试那些包含先进总线协议的下一代处理器的能力。
- 科利登新品提供先进的射频测试能力
- 作者：暂无 来源：中国集成电路 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试能力 射频 Zigbee 科利登公司 WiMax 测试选件 网络分析 测试平台 无线电话
- 描述：科利登公司近日宣布：在其新的Sapphire D-40测试平台上推出调制向量网络分析（MVNA）射频测试选件。MVNARF选件在测试无线电话，WLAN，WiMax以及Zigbee等器件上的能力
- 科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2003 文献类型 ：期刊文章 关键词： 增强型 串行总线 数字信号处理 任意波形发生器 数据传输 模拟波形 混合信号 测试程序开发 测试要求 测试系统
- 描述：科利登：增强型SZ Falcon测试系统
- 科利登发布D-6432DFT测试解决方案，帮助用户满足不断
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2007 文献类型 ：期刊文章 关键词： 测试解决方案 高数据速率 Systems 用户 半导体工业 微处理器 测试平台 供应商
- 描述：件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。[第一段]
- 科利登提供从设计到生产全套的测试解决方案
- 作者：暂无 来源：今日电子 年份：2004 文献类型 ：期刊文章 关键词： 科利登系统公司 集成电路 测试技术 系统级芯片 嵌入式温度稳定技术 Personal Kalos 2 ASL 3000RF
- 描述：制造商、芯片代工商、外部封装测试供应商和无生产线芯片公司广泛采用。最近,在VLSI调查公司的2003最佳客户满意度调查中,科利登...
- Zetex半导体选择科利登的ASL3000测试其类型广泛的
- 作者：暂无 来源：电子工业专用设备 年份：2005 文献类型 ：期刊文章 关键词： ASL3000 混合信号 拟和 科利登系统公司 类型 测试解决方案 集成电路器件 美国加州 半导体业 测试成本 分立器件 产品市场 测试方案 供应商 设计
- 描述：说：“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。
- 科利登Sapphire S测试系统被Sun Microsy
- 作者：暂无 来源：半导体技术 年份：2006 文献类型 ：期刊文章 关键词： systems公司 Sun公司 测试系统 自动测试设备 微处理器芯片 SPARC 高速芯片 系统使用
- 描述：开发。[第一段]