香港科技园运用科利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力

【作者】

【刊名】电子工业专用设备

【关键词】 香港科技园运用科利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力

【摘要】个完整的失效分析实验室，从而能较早地在芯片设计过程中捕获重大的器件缺陷，帮助客户缩短产品上市时间，降低生产成本。[第一段]

【年份】2006

【期号】第5期

【所属分类】 F124.3