科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率问题
【刊名】今日电子
【关键词】 成品率 步进扫描 图像叠加 掩模 系统定位 集成电路 量产时间 问题 产品 加工成本
【摘要】效和稳固。GlobalScan-Ⅰ支持多种物镜选件,采用亚微米图像叠加方法的精密定点、步进扫描模式和实时的集成CAD导航技术。
【年份】2004
【期号】第12期
【所属分类】 TN305.7;TN915.07
相关文章
- 1、新型科利登GlobalScan-Ⅰ系统定位复杂设计和成品率 作者:暂无 年份:2004
- 2、科利登新推GlobalScan-I集成电路诊断系统 作者:暂无 年份:2005
- 3、新型科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率 作者:暂无 年份:2004
- 4、科利登GlobalScan-I系统定位复杂设计和成品率问题 作者:暂无 年份:2004
- 5、通过提高效率降低汽车零件的综合加工成本——王英天经理谈山特 作者:魏莹 年份:2006
- 6、科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案:SEM 作者:暂无 年份:2004
热点排行
推荐内容